成功事例 | IC芯片浮起的穩定檢測方案
發布時間:2025-05-22 10:24 類型:
應用案例 人瀏覽
【行業】SEMI
【設備】測試分選機
【用途】用于將IC芯片按照要求進行分類和分選
■ 需要滿足設備的小型化設計,達到省空間的目的。
■ 實現對于芯片1mm浮起的穩定檢測。
核心產品:智能激光傳感器E3NC
■ 備有網絡型放大器,方便導入并監控傳感器實時狀態。同時,放大器采用分離設計,既保證了檢測頭的體積小,也可在不同環境下調整放大器設置。
■ 1級激光光源,1m檢測距離時的2mm光斑大小,確保IC芯片微小浮起的穩定檢測。
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