2015年5月26日—由美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）主辦的第十二屆“中國PXI技術和應用論壇” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC）北京站會議圓滿閉幕。在今年的PXI TAC會議上，NI展示了PXI最新的技術發展以及應用案例，推出了業界首款基于PCle第三代技術的PXI嵌入式控制器和高帶寬PXI機箱，大幅推動了PXI技術的進步和PXI在高性能應用場合中的廣泛應用。
NI始終致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰，在本次PXI TAC會議上，NI詳細介紹了基于Intel Xeon處理器的NI PXIe-8880控制器和業界首款采用第三代PCI Express技術的NI PXIe-1085機箱。NI PXI平臺和儀器研發副總裁Robert Canik表示：“未來的自動化測試和控制將會更加復雜、要求更快速度和更高品質。在這種背景下，PXI平臺憑借其靈活、開放的特性，加之NI的圖形化編程軟件LabVIEW的相輔相成，使其在測試測量領域占據絕對領先優勢。全新的18槽機箱采用了第三代PCI Express技術，每個插槽配備8條通道，以匹配24 GB/s的系統總帶寬，從而使任何測試和測量系統都能夠輕松滿足未來需求。”
面對爆發式無線技術的增長，PXI技術和應用論壇北京站活動還設立了射頻應用專題討論。專題以PXI 射頻平臺為核心，介紹了無線領域前沿技術與最新應用。同時北京站還開設了動手課程，現場的與會者有機會親手參與構建基于PXI技術的完整自動化測試系統，并完成自定義測量任務，參與者在實踐中可親身體會到PXI技術的優勢與便利。除北京站以外，2015 PXI技術和應用論壇還將陸續在廣州、西安、上海舉行。專題討論將覆蓋射頻應用、消費電子、國防與航空航天、汽車電子四個專業領域。
今年是PXI技術發展的第十八個年頭。自從1997年NI推出業界第一款PXI機箱開始，NI就一直是PXI技術的創新者和領導者，18年來NI一如既往地追求卓越，不斷在測試測量領域進行創新和持續投入。在中國，伴隨著2015年PXI TAC在北京站的成功舉辦，PXI技術平臺將進一步被測試測量界的工程師所接受，PXI技術也幫助中國的客戶成功面對了各類應用挑戰。相信NI所提供的開放式的PXI平臺在未來仍將幫助工程師與科學家們加速新興應用的實現。
