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泛華測控DAQ事業(yè)部作為NI（美國國家儀器有限公司）與北京中科泛華測控技術有限公司聯(lián)合成立的部門，從2005年8月1日成立至今一直致力于為國內(nèi)廣大測試測量工程師提供高品質(zhì)的NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品以及各行業(yè)應用解決方案。
為進一步推動虛擬儀器技術在國內(nèi)的發(fā)展和應用，使更多的工程師們能更快更好地開發(fā)符合特定要求的基于計算機的測控系統(tǒng)，泛華測控DAQ事業(yè)部將在中國地區(qū)舉辦2007年第一屆數(shù)據(jù)采集應用方案有獎征文競賽。
歡迎您參加本次競賽，請仔細閱讀以下參賽要求，并參照附件要求遞交您的文章和參賽報名表，感謝您的支持！
一．參賽對象:
國內(nèi)使用NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品開發(fā)基于計算機的測試/測量和自動化控制系統(tǒng)的技術人員（包括大專院校教師和學生）。
★不接受員工參賽。
★硬件僅限于使用PCI，USB，PCMCIA總線數(shù)據(jù)采集卡的用戶，軟件開發(fā)平臺不設限制。
二．參賽方法:
◆參賽日期：
即日起至2007年12月31日前提交您的參賽報名表以及參賽文章，我們有權拒絕在此日期以后提交的文章參賽。
◆參賽要求：
（1）您需要在2007年12月31日前遞交您的參賽報名表、參賽文章以及同意發(fā)表確認書。
（2）請按照我們提供的文章格式編輯您的文章，字數(shù)不得少于1500字。
（3）參賽文章的格式、樣本、參賽文章的特殊要求、同意發(fā)表確認書等信息請點擊此處下載: 如果您無法下載，請與泛華測控DAQ事業(yè)部有獎征文競賽組聯(lián)系。
◆投稿方式：
* E-mail至：daq@pansino.com.cn標題注明“泛華測控DAQ事業(yè)部征文競賽—作者姓名”
* 傳真至：（021）51702175 泛華測控DAQ事業(yè)部 有獎征文競賽組
* 郵寄至：北京中科泛華測控技術有限公司DAQ事業(yè)部 有獎征文競賽組 收
地址：上海徐匯區(qū)斜土路1233號之俊大廈1406室 郵編：200032
電話：（021）51028208
* 注：郵寄的文章必須用激光打印一式二份（字體大小為小五號、宋簡體、標準4A復印紙，圖片須高度清晰）；同時提供Windows 95/98/2000/XP平臺下的3.5寸磁盤或CD-ROM，請妥善包裝好您的盤片，以防郵寄過程中被損壞；
* 無論以何種方式遞交的文章均需附上作者親筆簽署的“同意發(fā)表確認書”，并將文中涉及的圖片以及高分辨率格式打包隨正文一同發(fā)送。
三．參賽文章的評定規(guī)則:
◆文章所描述的是基于NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品在測試測量和自動化應用方案的成功范例嗎？
◆您的應用方案所解決的技術難度如何？
◆您的應用在減少開發(fā)時間和降低成本方面的優(yōu)勢，方案的創(chuàng)新程度如何？
◆文章中列明了您使用的NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品，并且比較以前使用的數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品，清楚地闡明了NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品在現(xiàn)今系統(tǒng)中的優(yōu)勢。
四．競賽獎勵辦法:
一等獎1名：RMB 5000；
二等獎2名：RMB 2000；
三等獎3名：RMB 1000；
最佳OEM獎1名：獲價值RMB 5000 NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品（限PCI,USB,PCMCIA總線）；
鼓勵獎10名：艾利和MP3一個；
★以上獲獎者征文免費刊登在行業(yè)網(wǎng)站和泛華測控DAQ事業(yè)部各類宣傳資料上;
參與獎：所有參賽者將獲得泛華測控DAQ事業(yè)部贈送的精美禮品一份，優(yōu)秀征文將免費刊登在行業(yè)網(wǎng)站和泛華測控DAQ事業(yè)部各類宣傳資料上；
另注：
★泛華測控DAQ事業(yè)部有權處理所有遞交的文章，并保留本次活動的解釋權。
如果您對本次征文活動有任何問題，請聯(lián)系北京中科泛華測控技術有限公司DAQ事業(yè)部 有獎征文競賽組。
我們熱誠歡迎您參加本次競賽，與我們分享您使用NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品心得和開發(fā)經(jīng)驗。請仔細閱讀以上說明，具體參賽方法及其他細節(jié)請登陸http://www.pansino.com.cn/daq，或致電泛華測控DAQ事業(yè)部（021-51028208）有獎征文競賽組咨詢。
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泛華測控DAQ事業(yè)部 征文組
2007年10月 | |