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泛華測控DAQ事業部作為NI（美國國家儀器有限公司）與北京中科泛華測控技術有限公司聯合成立的部門，從2005年8月1日成立至今一直致力于為國內廣大測試測量工程師提供高品質的NI數據采集產品以及各行業應用解決方案。
為進一步推動虛擬儀器技術在國內的發展和應用，使更多的工程師們能更快更好地開發符合特定要求的基于計算機的測控系統，泛華測控DAQ事業部將在中國地區舉辦2007年第一屆數據采集應用方案有獎征文競賽。
歡迎您參加本次競賽，請仔細閱讀以下參賽要求，并參照附件要求遞交您的文章和參賽報名表，感謝您的支持！
一．參賽對象:
國內使用NI數據采集產品開發基于計算機的測試/測量和自動化控制系統的技術人員（包括大專院校教師和學生）。
★不接受員工參賽。
★硬件僅限于使用PCI，USB，PCMCIA總線數據采集卡的用戶，軟件開發平臺不設限制。
二．參賽方法:
◆參賽日期：
即日起至2007年12月31日前提交您的參賽報名表以及參賽文章，我們有權拒絕在此日期以后提交的文章參賽。
◆參賽要求：
（1）您需要在2007年12月31日前遞交您的參賽報名表、參賽文章以及同意發表確認書。
（2）請按照我們提供的文章格式編輯您的文章，字數不得少于1500字。
（3）參賽文章的格式、樣本、參賽文章的特殊要求、同意發表確認書等信息請點擊此處下載: 如果您無法下載，請與泛華測控DAQ事業部有獎征文競賽組聯系。
◆投稿方式：
* E-mail至：daq@pansino.com.cn標題注明“泛華測控DAQ事業部征文競賽—作者姓名”
* 傳真至：（021）51702175 泛華測控DAQ事業部 有獎征文競賽組
* 郵寄至：北京中科泛華測控技術有限公司DAQ事業部 有獎征文競賽組 收
地址：上海徐匯區斜土路1233號之俊大廈1406室 郵編：200032
電話：（021）51028208
* 注：郵寄的文章必須用激光打印一式二份（字體大小為小五號、宋簡體、標準4A復印紙，圖片須高度清晰）；同時提供Windows 95/98/2000/XP平臺下的3.5寸磁盤或CD-ROM，請妥善包裝好您的盤片，以防郵寄過程中被損壞；
* 無論以何種方式遞交的文章均需附上作者親筆簽署的“同意發表確認書”，并將文中涉及的圖片以及高分辨率格式打包隨正文一同發送。
三．參賽文章的評定規則:
◆文章所描述的是基于NI數據采集產品在測試測量和自動化應用方案的成功范例嗎？
◆您的應用方案所解決的技術難度如何？
◆您的應用在減少開發時間和降低成本方面的優勢，方案的創新程度如何？
◆文章中列明了您使用的NI數據采集產品，并且比較以前使用的數據采集產品，清楚地闡明了NI數據采集產品在現今系統中的優勢。
四．競賽獎勵辦法:
一等獎1名：RMB 5000；
二等獎2名：RMB 2000；
三等獎3名：RMB 1000；
最佳OEM獎1名：獲價值RMB 5000 NI數據采集產品（限PCI,USB,PCMCIA總線）；
鼓勵獎10名：艾利和MP3一個；
★以上獲獎者征文免費刊登在行業網站和泛華測控DAQ事業部各類宣傳資料上;
參與獎：所有參賽者將獲得泛華測控DAQ事業部贈送的精美禮品一份，優秀征文將免費刊登在行業網站和泛華測控DAQ事業部各類宣傳資料上；
另注：
★泛華測控DAQ事業部有權處理所有遞交的文章，并保留本次活動的解釋權。
如果您對本次征文活動有任何問題，請聯系北京中科泛華測控技術有限公司DAQ事業部 有獎征文競賽組。
我們熱誠歡迎您參加本次競賽，與我們分享您使用NI數據采集產品心得和開發經驗。請仔細閱讀以上說明，具體參賽方法及其他細節請登陸http://www.pansino.com.cn/daq，或致電泛華測控DAQ事業部（021-51028208）有獎征文競賽組咨詢。
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